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沃德普键盘外观全面检测:盘古分时成像方案
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2022-04-07 10:23:44来源: 中国机器视觉网

随着键盘数量增多和印刷的多样化,传统的人工检测键盘存在检出率低且效率不高的问题,且增加了劳动强度和生产成本。为此沃德普推出自动化键盘外观缺陷全面检测方案,有效提高生产效率和产品质量。

以台式键盘为例,需要同时检测有六个面:键帽正面、键帽侧壁、键盘正面,键盘侧面、键盘底面、底部凸台。

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在设计方案的过程中,仅靠一个光源辅助成像是不足以完成检测以上全部缺陷,然而用多组相机/光源进行检测,那么设备会非常庞大,工位繁多,影响整体检测CT等问题,适时沃德普推出“盘古分时成像方案”,有效解决这一痛点。“盘古分时成像方案”可以进行多工位合并,且成像速度为300mm/s,保证检测效率,稳定输出不同工位对应光源成像:明场、暗场、明暗场图像。

盘古分时成像方案

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明场图片

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暗场图片

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键盘侧边

从算法的角度来说,我们提供的图像信息越多,对检出率是有极大帮助的,利用“盘古成像方案”,提供多幅不同光源成像出来的图片,可以有效减轻算法压力,提高检出率,减少漏失次数,提高效率!

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“盘古成像方案”能稳定高效地检测缺陷

基于键盘外观全面检测方案可用于各种键盘工件的高精度缺陷检测,比如键帽的凸点、划伤、以及暗色划伤等。有效提高生产效率和产品质量,减少人工检测的漏检、误检次数!

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键帽:凸点、划伤、暗色划伤

自动化机器检测方式优化了传统人工检测的缺点,而“盘古成像方案”具有多工位合并、成像效率高,同时输出不同工位成像的优点,且缩短设备尺寸,减少运控步骤,有效提高检测CT。从算法的角度来说,提供的图像信息越多,能有效减轻算法压力,提高检出率!