在消费类电子领域的大规模生产线中，光学传感器不仅需要高精度和高速度，还需要进行在线测量。不同材料之间的相互作用和这些产品的复杂几何形状给质量控制工作带来了挑战。普雷茨特 3D 测量技术可以帮助消费类电子领域应对这些挑战，确保量产符合标准工艺要求。

手机中框即前面板和后盖中间衔接区域，诸如卡槽、按键等部件均会固定在此。为了实现手机的正常功能，需要确保量产的尺寸、形貌等符合标准工艺。如果使用传统方法，很难实现应检尽检，将会大大延缓量产进程。

测量要求

如下图片均为不同品牌手机的中框网图。从图中可以看出，在测量中框时，容易存在诸如测量点离散、元件高低不平有遮挡、盲孔等问题。而如果使用传统的三角测量方法，极易出现测量死角。

而中框位置需要实现对平面度、位置度、段差、孔深等的测量，同时在实际量产过程中，CT 要求 1s 以内需要完成，精度要达到 μm 级别。

解决方案

解决方案：线传感器 CLS 2 + 2.5 mm 探头

CLS 2 使用光谱共焦测量原理，同轴的测量可实现无测量死角，针对通孔盲孔均可实现高精度测量。同时 2.5 mm 的探头具备 2.5 mm 的测量范围，0.2 μm 的线性精度和 2 μm 的线性精度，可满足既定测量要求。

从下述图片中可以清晰地看出各个点之间的段差及平面度信息，同时点击可查看精确到亚微米的测量数据。

线传感器 CLS 2

光谱共焦线传感器 CHRocodile CLS 2 是在严酷的工业环境中进行精确 3D 在线质量控制的理想工具。通过高达 36,000 条轮廓/秒的快速线扫，可以在很短的时间内确定样品的三维结构 - 非常适合工作周期时间很关键的在线应用。

光谱共焦测量技术提供的数据具有极高的横向和轴向分辨率，能够确保对任何类型的材料进行测量，并且没有阴影效应 - 即使是复杂的几何形状。

此外，易于更换的光学探头提供了高度的灵活性，使传感器的规格符合您的要求。

线传感器应用

线传感器 CLS 2 系列非常适合如下应用：

在半导体行业的应用: 引线键合检测、凸点测量、包装晶圆边缘检查、切割槽检查、缺陷、裸片裂缝、光掩膜光刻。

在消费电子领域的应用: 外壳形貌检查，轻微、中等和高度弯曲表面的检查、倒角和转角检查、直径/孔/梯形表面检查、特殊高度物体的外观检查。