在消费类电子领域的大规模生产线中，光学传感器不仅需要高精度和高速度，还需要进行在线测量。不同材料之间的相互作用和这些产品的复杂几何形状给质量控制工作带来了挑战。

普雷茨特 3D 测量技术可以帮助消费类电子领域应对这些挑战，确保量产符合标准工艺要求。

在精密电子部件的组装过程中，需要通过各种精密螺丝来实现紧固和连接。其尺寸精度、粗糙度等方面都比普通螺丝要求更高。由于各个细微部件紧凑集成，肉眼很难辨识出不合格品。传统的三角测量因为存在死角，这对于 3D 测量任务提出了很大挑战。

因此，为确保所有部件功能正常，需要在量产过程中对其进行高效、全面地测试和控制。

测量要求

如下绿色框中的图片为本次需要测试的样品。从右侧放大后的图片可以看出，上面密集的点即为精密的螺丝部件。本次测试需要满足 ± 5 μm 的精度，亚微米级别的重复性，以及 0.3s 以内的扫描。

从下图可以看出三角和同轴测量的区别：

解决方案

解决方案：CLS 2，搭配 2.5 mm 探头。采用同轴线光谱的测量原理，测量深孔无死角，精度高，重复性约 0.1 μm。

CLS 2 有多种探头可供选择，易于更换的光学探头提供了高度的灵活性。在检测螺丝的段差以及平面度时，可以使用 2.5 mm 的探头实现快速测量，采样最快可实现 36 kHz。下述图片中可以清晰地看出整个接口的深度及平面度信息，同时点击可查看精确到亚微米的测量数据。

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线传感器 CLS 2

普雷茨特光谱共焦线传感器 CHRocodile CLS 2 是在严酷的工业环境中进行精确 3D 在线质量控制的理想工具。通过高达 36,000 条轮廓每秒的快速线扫，可以在很短的时间内确定样品的三维结构，因此非常适合工作周期时间很关键的在线应用。

线传感器 CHRocodile CLS 2 采用了白光干涉原理，通过光谱共焦原理建立距离与波长间的对应关系，利用光谱仪解码光谱信息，从而获得位置信息的装置。其提供的数据具有极高的横向和轴向分辨率，能够确保对任何类型的材料进行测量，并且没有死角，因此即使是复杂的几何形状也可快速测量。

线传感器 CLS 2 系列非常适合如下应用：在半导体行业的应用：引线键合检测、凸点测量、包装晶圆边缘检查、切割槽检查、缺陷、裸片裂缝、光掩膜光刻。在消费电子领域的应用：外壳形貌检查，轻微、中等和高度弯曲表面的检查、倒角和转角检查、直径/孔/梯形表面检查、特殊高度物体的外观检查。