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纤毫毕现,ACF导电粒子在线检测微分干涉光学系统
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2024-04-28 15:12:33来源: 中国机器视觉网

微分干涉相衬观察法(Differential Interference Contrast,DIC)是基于光学干涉原理,通过引入相位差和干涉现象的一种特殊显微成像技术。从光源射出经过起偏器后的线偏振光,通过一个有双折射性质的的分光束棱镜,分解成两束正交方向振动的偏振光,当这两束空间间隔极小的相干光束照射到样品表面时,样品表面的微小凹凸和材料折射率的差异会导致两个光束光程差的产生,两束具有光程差的光束经过分光棱镜重新汇合,通过检偏器后使它们的振动方向一致从而发生干涉现象。

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这种干涉现象与光程差的存在,将样品表面的微小细节差异转化为图像明暗对比增强的效果,在2D成像时可以展现出一种立体浮雕般的三维效果。起初该技术旨在解决传统显微镜对未染色透明生物样品的低对比度问题。

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茉丽特DIC产品

随着技术的进步和DIC显微镜的改进,DIC观察法在分辨率、对比度和图像质量方面得到了提升。数字成像系统的引入使得观察到的图像可以直接转化为数字图像,并进行后续的图像分析和处理。

在工业机器视觉领域,DIC作为一种新兴的观察检验方法,凭借其不同于常规明视场、暗视场照明的独特成像原理,正越来越受到广泛应用。尤其近年来,在新型能源汽车的爆发式发展带动下,部分上游配套产业,如智能座舱所需更多的车载显示面板、高压快充所需第三代功率半导体(SiC、GaN)需求也迎来迅速增长,DIC正成为其中部分制程中关键的观察手段,如导电粒子压合、晶圆表面缺陷检测等。

2018年,茉丽特根据中国市场信息,结合自身技术实力,发布了第一款DIC筒镜。通过调整DIC显微镜的参数,如偏振器的角度和起偏检偏相对位置,可以改变干涉图像的外观和对比度。这使得茉丽特的DIC显微镜能够提供高分辨率、高对比度和三维立体效果的图像,揭示样品中微小的相位差异和细微结构的细节。

突出优势1:超高亮度

茉丽特同时拥有镜头、光源的设计与制造能力,成像仿真技术与照明技术相配合,超高的照明亮度可以搭配最大靶面28mm线扫相机,进行高速线扫成像。

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突出优势2:高粒子对比度/高分辨率

茉丽特结合50年来的光学设计与加工经验积累,自行设计制造分光束棱镜,更好的平衡分光宽度与分光高度,获得更高的粒子对比度同时保证高分辨率。

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突出优势3:高均匀性

光源和光学部分的一体化设计,优化两者配合,拥有更高的均匀性。   

应用案例

不仅如此,除在工业领域帮助工程师和研究人员进行精密制造和质量控制外,DIC在材料科学、生命科学等领域也正发挥着强大的作用。茉丽特作为机器视觉行业的光学元件及解决方案提供商,也期待客户能提出更多的行业需求与应用信息,我们将通过领先的技术创新及产品创造,持续为中国及全球客户提供优质的技术解决方案及服务。

(茉丽特 柏春友)