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Vision小助手
(CMVU)
在机器视觉领域,高速而准确的成像技术是提升检测效率的关键。埃科光度立体成像系统,正是凭借其高速硬件计算成像技术和丰富的融合图像类型,在众多同类产品中脱颖而出。
上一期,我们介绍了埃科光度立体成像系统的主要构成与核心优势。本期,我们将探讨该系统如何实现高速、准确的图像输出,从而一举突破表面缺陷检测难题。
光度立体成像原理
经典光度立体系统模型由至少3个空间位置不同的光源、相机和待测对象组成(如图1所示)。通过相机拍摄待测对象在不同空间角度的光源照射下的一组图像,再根据朗伯漫反射模型进行计算,从而得到待测对象的表面法向量,以此重建出三维表面信息。
埃科光度立体成像系统基于该原理,巧妙结合多角度光源与相机硬件,精确捕捉物体表面的细微特征,实现多样化的表面信息图像输出。
高速硬件计算成像技术
传统光学成像系统采用的是“先图像采集-再计算成像”的串行方案(如图3所示),这种方案通常耗时较长,无法满足高速检测的需求。
埃科光度立体成像系统通过硬件创新与算法优化,实现了图像采集与计算成像的并行处理(如图4所示)。在图像采集的同时进行光度立体图像融合计算,极大地提高成像效率,将延迟控制在µs量级,确保图像采集完成之际,计算结果也几乎同步完成,为高速检测提供强有力的技术支持。
丰富的融合图像类型
埃科光度立体成像系统支持输出丰富的融合图像类型,致力于为表面缺陷检测难题提供更新颖、更全面的成像解决方案。
目前相机端支持实时输出8种融合图像,包括纹理图、梯度图、积分图等;软件端更是支持输出多达16种的融合图像,每一种图像都专为凸显不同类型的缺陷而设计。其中,纹理图可以反映表面反射率差异,梯度图可以揭示表面的梯度特征,积分图则可以强调表面高低起伏的变化。
用户可以根据不同的检测需求,灵活选择最适合的图像类型进行分析和判断,大大提高检测的准确性和效率。
以下是部分融合图像的实际效果展示:
结语
综上所述,埃科光度立体成像系统以其高速硬件计算成像技术和丰富的融合图像类型,成功突破传统局限,实现高效图像输出,为锂电、半导体、新型显示等领域的表面缺陷检测难题带来了全新可能。