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Vision小助手
(CMVU)
背景
工业机器视觉检测一直追求机器替代人眼的效果,在定位、测量、识别等任务上已经取得长足进步,实现了对于人眼检测工位的替代。但是产线上还存在一些缺陷检测任务,由于缺陷类型众多,单一角度下无法完全呈现,始终未能实现机器替代人眼的目标。例如,动力电池的表面缺陷类型众多,包括深浅不一的划痕、凹坑、凸起、褶皱等,采用传统的2D成像手段难以区分不同类型的缺陷,3D成像手段对于细微的高度变化也无能为力。
埃科线扫光度立体系统的产品组成
为了解决表面缺陷检测难题,埃科光电研发了光度立体系统,凭借其多样的特征输出图和高速硬件计算成像技术,一举突破了表面缺陷检测难题,为动力电池、半导体、新型显示等产品领域的检测难题提供了新的成像解决方案。
该系统根据不同检测速度、精度及视野要求可以选配相匹配的镜头与光源,确保在复杂的检测场景中获得更准确的结果。目前共有三种类型的系统,线扫光度立体系统支持搭配多分区穹顶光源或4分区线光源;面阵光度立体系统搭载8分区环形光源。
埃科线扫光度立体系统的产品亮点
埃科光度立体系统集光学、结构、电路、算法研究成果于一体,成功突破固有的表面缺陷检测难题,显著提升了光学系统对于多种多样的表面缺陷的检出能力。
1、多角度光源设计
埃科光度立体系统为线扫应用设计了穹顶光源与线光源两种方案。其中穹顶光源照射均匀性好,对于表面反射特性要求低,无论是接近漫反射的表面还是接近镜面反射的物体表面,均能检出表面缺陷。多角度线光源更适合接近漫反射特性的表面,空间布局紧凑,适合安装空间受限的工位采用。
2、紧凑的结构方案
埃科光度立体系统设计了光源、相机、控制器一体化安装方案,结构更加紧凑。其中面阵光度立体系统集相机与控制器于一体,相机端即可实现光源控制。而线阵光度立体系统也支持将控制器、光源、相机安装于一个整体结构上,具有极高的集成度。
3、硬件计算成像
埃科光度立体系统设计了独特的硬件计算成像方案,在图像采集的同时进行光度立体图像融合计算,采集完成图像也计算完成,时间延迟在us量级。传统的图像采集-计算成像方案如下左图所示,耗时较长;埃科自研的图像采集-计算成像并行方案如下右图所示,极大提高了计算效率,几乎在采集完成的同时计算结果也完成。
4、丰富的图像融合算法
目前相机端支持纹理图、梯度图、积分图等8种融合图像硬件实时计算输出,软件端支持16种融合图像,每一种融合图像对于不同类型的缺陷有不同的凸显效果。例如,纹理图可以反映表面反射率差异,积分图可以强调表面高低起伏的变化,梯度图可以揭示表面的梯度特征,法向量图可以表示表面法向量的分布情况,曲率图可以表达表面的曲率变化。众多的计算成像结果为表面缺陷检测与质量控制提供了有效的手段。
结语
埃科光度立体系统是光、机、电、算完美融合的产品,它不仅要求出色的光源设计,也要求苛刻的硬件计算性能开发以及精妙的算法设计。随着产品质量检测的要求日益提高,对光学成像系统的缺陷表达能力提出了更高的要求,埃科光度立体系统正是满足这一要求的关键工具。