技术优势

1、代替多角度组合线光源分时频闪的工作模式，无需相机同步控制，大幅提高图像采集的时间效率；2、采用连续多角度入射的反射式光学结构，实现一张图体现被检物全部缺陷，大幅提高算法工程师工作效率及数据处理效率；3、采用模块化结构设计，便于客户快速安装部署；4、专业的热管理设计，保证系统运行可靠；5、采用带线性补偿的数字恒流电路，方便对每一组光源根据被检物特性实施精准光源亮度调节。6、采用完全密封的光源结构避免灰层落入光学结构，便于光源清洁维护。

应用领域

1、PCB&FPCB前道缺陷检测，例如：底铜、荚膜、微断、断线等；2、透明薄膜、偏光膜、铜箔、铝箔等高反光产品表面缺陷检测，例如：划痕、凹凸、脏污等；3、高反光印刷品表面缺陷检测，例如：镭射防伪标识信息提取、光油缺失、套印错位、划痕、脏污等；4、针对半导体衬底玻璃表面缺陷检测，例如：划痕、凹凸、气泡、白点等；5、半导体硅片表面缺陷检测,例如：划痕、凹凸、脏污、内部隐裂（更换短波红外光源）等。

抓拍效果图

OLED铜基板线路检测

PCB板线路板底铜检测

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