成像，是机器视觉系统开发设计工作的第一步。成像解决方案的目的就是为机器视觉系统采集到特征清晰、全面、对比鲜明的图像，而决定成像质量的，除去显而易见的工业相机和镜头的品质因素之外，最重要的就是光源了。对光源而言，影响成像品质的有光线的方向、角度、能量的空间分布以及波长等。机器视觉面阵系统如此，线阵系统亦如此。尤其在应用于外观缺陷检测的机器视觉系统中，光源的照明方向、角度和照明模式的应用显得更为关键。

在外观缺陷检测项目中，最富有挑战性的检测需求往往是表面脏污、细微的压痕、不规则的划伤、凹坑、凸点、裂纹等。特别是当被检测的工件为光滑、不平整表面，或该工件为透明材质（如玻璃）时，常规的照明方式根本无法满足要求。原因是显而易见的，即任何单一或固定的照明方式，都无法充分地呈现上述多种缺陷。

为了解决这个问题，CST在原有分时线扫照明系统的基础之上，最新推出了全缺陷分时线扫光源CST-HFS399106-B-TS。

该光源共有5组独立可控的光路，并集成了控制与通信单元，5组光路在线扫系统中瞬时切换。其高速变换的5组光路实现了明场、暗场、横向、纵向等多个维度光线变换照射，辅助线扫相机一次性完成图像采集，再通过客户视觉软件的图像拆分与综合处理运算技术，完成对各类缺陷的输出，特别是对细微表面缺陷的输出。全缺陷分时线扫光源可将工业线阵相机与工业线阵光源的性能发挥得淋漓尽致，并极大地降低硬件成本，减少设备安装空间，为高难度、多工位检测项目带来新的冲击。

应用示例

为阐述CST-HFS399106-B-TS全缺陷分时线扫光源的作用和效果，这里以某包装缓冲垫的表面划痕与脏污检测为例，作一简要的图文解释。

如图1.1所示，该工件表面为易反光材质，并呈不规则的疙瘩状纹路。因其特殊的表面属性，如果采用传统的照明光源照射（无论是单一光源还是组合光源，甚至是多角度光源），都不太可能去除背景干扰并提取出清晰的缺陷轮廓，而使用CST全缺陷分时线扫光源即可得以解决。

图1.1缓冲垫样品实物图

图2.1光学架设图

图2.1为光学架设图，图2.2为线扫相机采集的原始图像，图2.2-2.7分别为拆分后的5张原始图像。拆分后的图像经过处理，工件表面的划痕与脏污已经是“显而易见”，视觉软件极易处理，如图2.8-2.11所示。

图2.2 原始图像

原始图像拆分图

图2.3拆分图1

图2.4拆分图2

图2.5拆分图3

图2.6拆分图4 

图2.7拆分图5

拆分后的图像经过处理，工件表面的划痕与脏污已经是“显而易见”，视觉软件极易处理，如图2.8-2.11所示。

图2.8综合处理效果图（亮场）

图2.9综合处理效果图（暗场）

图2.10亮场局部放大图（脏污检测）

图2.11亮场局部放大图（脏污检测）