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Gocator 4000系列同轴线共焦新增型号,助力半导体行业应用检测
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2025-02-25 11:14:16来源: 中国机器视觉网

Gocator 4000系列的同轴光学设计实现零遮挡扫描简单或复杂的材质表面,在检测一些目标物应用时,例如较陡构件、超弯曲表面和深凹槽等,提供更精确的测量结果,非常适用于半导体、消费电子和动力电池等行业应用。

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全新Gocator 4011 和 4021采用优化光学设计消除噪声,在检测半导体行业的BGA和引线键合等精细结构目标物时,生成卓越的数据质量,成像效果升级。全系列提供卓越的 X 方向分辨率和最佳 Z 方向性能,适用于精细特征检测和精密3D形状和2D亮度测量。扫描速可达 36 kHz+(加速状态下),完美满足在线检测节拍。

LMI洞悉客户最终实际需求,在原有型号的基础上,新增型号Gocator 4011和 Gocator 4021,在扫描BGA和金线等精细结构目标物的时候,提供非常卓越的数据质量、重复性和线性度。

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G4010 和 G4020也能提供卓越的数据质量,在一些应用中,例如需要超高灵敏度或在高反光目标物(例如:玻璃)上需要更大的兼容角度时,G4010 和 G4020 通常更合适。

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