针对OLED(以及mini LED/micro LED)面板模组对工业相机的特殊需求，荷兰高性能工业相机制造商Adimec公司在新推出的D65A35和D12A09相机中增加了多重曝光和多帧平均功能。

   多重曝光主要用于OLED(以及mini LED/micro LED)亮屏的检测，用于消除图像上因OLED屏刷新产生的条纹。

   以iphoneXs为例。该屏的刷新时间是8.33ms。OLED屏的检测需要在不同亮度下拍很多图像，当屏幕亮度非常高的时候，为了防止过曝需要的曝光时间就非常短。例如当曝光时间设置为3ms（3/8的刷新时间）的时候，就会出现下图中的（4条）条纹。

   为了获得准确的检测结果，我们需要的是如下图没有条纹、均匀的图像。

   多重曝光的功能可以让相机在3ms的时间内实现多重曝光。例如，在3ms的曝光时间内实现200次每次15μs的曝光，相机芯片实际输出一张图像。

   多帧平均功能早年常用于X光成像的应用中用于消除X光片上的噪声。在OLED的检测中主要用于暗屏mura的检测。

   由于暗屏mura的信号非常弱，图像上灰阶的差异很难被软件算法识别出来。

   OLED的检测中，为了检测出mura就需要放大信号（调高增益）。但是调高增益放大信号的同时也会放大mura周围噪声的信号。

   通过多帧平均可以消除掉图像上大部分随机的瞬态的噪声。如下图在16帧平均以后图像。可以看到整体图像的噪声更低，图像更均匀，mura更明显。

   多帧平均的根本原理和很多科学级相机类似，就是通过提高信号降低噪声获得更高的信噪比来检测微弱的信号差异。

   实际软件识别的过程中灰阶的差异如下图。

   通过多帧平均可以极大的消除图像上噪声对测量结果的影响。对暗场mura的检测效果非常明显。以前大部分的设备商会再系统层面集成多帧平均的功能，但是那样的话相机需要拍很多照片传输到系统层面，那样相机和整个系统的负荷就会非常大。

   Adimec是在机器视觉领域全球领先的工业相机制造商。Adimec新推出的D65A35和D12A09相机主要应用于OLED(以及mini LED/micro LED)面板模组的mura检测和demura。