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晶圆表面缺陷检测应用，SPEC10系列3D线光谱共焦传感器表现优异
在先进封装晶圆行业，晶圆尺寸小、型号多，传统人工显微目检效率低，且难以保证准确率。为满足晶圆生产过程中对检测效率和精度的要求，需要更高精度的光学检测设备替代传统检测方式，助力晶圆缺陷检测智能化。半导体检测2023-03-23 | 中国机器视觉网 |531 -
使用 LWM 优化日常点检，预防事故发生，减少停机时间，延长设备寿命，降低维修费用
点检是车间设备管理的一项基本制度，目的是通过点检准确掌握设备技术状况，维持和改善设备工作性能，预防事故发生，减少停机时间，延长设备寿命，降低维修费用，保证正常生产。检测2023-03-22 | 中国机器视觉网 |476 -
BGA锡球高度及共面度检测应用，SPEC10系列3D线光谱共焦传感器在非接触式量测应用表现
锡球在芯片封装中承担电信号连接作用，被广泛应用于BGA、CSP等微电子封装领域。随着芯片尺寸的减小及功能需求的增加，芯片对锡球材料、球径、高度及共面度等指标要求日趋严格。检测2023-03-16 | 中国机器视觉网 |762 -
饮料瓶回收系统的全自动化，交给威格勒智能传感器！
饮料瓶自动化回收机可以通过智能传感系统实现全过程的自动化。循环利用宝贵的资源，缩短循环时间，并使流程变得可靠、经济且安全。威格勒的研发团队致力于为此绿色回收系统设计一套专用的传感器产品方案，以此满足该新兴应用中的各项需求。检测可回收资源2023-03-13 | 中国机器视觉网 |547 -
OPT（奥普特）一键测量传感器SmartFlash高精度的四重保证
OPT（奥普特）一键测量传感器SmartFlash集成了机器视觉的边缘提取、自动匹配、自动对焦、自动学习及图像合成等人工智能技术，采用双远心光路及多角度照明系统设计，搭载高精度运动平台。检测2023-03-09 | 中国机器视觉网 |700 -
基恩士×半导体行业，经典基础检测应用分享
在高速发展的半导体行业中，基恩士参与到晶圆生产的各段工艺，性能优异深受信赖。本期内容分享，基恩士传感器在半导体行业中的经典基础检测应用。半导体检测精工和光学2023-03-07 | 中国机器视觉网 |541 -
普雷茨特红外干涉传感器高速测量硅片厚度，获得亚微米级别的扫描结果
以硅片厚度的测量过程，展现普雷茨特红外干涉飞点扫描仪 FSS 在测厚时的高速度和高精度表现。普雷茨特的红外干涉飞点扫描系列可在最高 70 kHz 的采样频率下获得亚微米级别的扫描结果。检测精工和光学2023-03-07 | 中国机器视觉网 |652 -
TOF光电传感器，吉诺科技直面物流领域各种复杂检测挑战！
吉诺新一代小方形光电传感器GOQ24T系列产品，在原有的开关量输出的基础上丰富了UART和RS485接口，并在背景抑制型产品上有更大突破，既继承了350mm检测距离产品，又开发出 TOF 背景抑制型产品，最远检测距离可达4000mm。物流2023-03-01 | 中国机器视觉网 |475