一、引言

   同轴光，在机器视觉中是一类应用很广泛的光源。同轴光常用于高反光物体表面检测，比如芯片及硅片表面破损检测，LED外观缺陷检测等。从作用上讲，同轴光可以消除物体表面上不平整造成的阴影，均匀照射到物体表面，反射回相机，从而采集出一幅均匀性好，对比度高的图片。然而，在实际应用中，我们经常发现视野做得比较小（镜头放大倍率2倍或2倍以上）的时候，相机采集的图片模糊、镜头完全对焦不上的现象。针对这种现象，CST技术团队找到了一个完善的解决方案，其原理是通过优化同轴光分光镜的光学性能，改善光源内部的透射、反射与折射参数，达到了同轴光在小视野高清晰成像的效果。

二、同轴光成像案例对比

1.目标物：标定板。

   检测视野：2.30mm*1.44mm。

图1 普通同轴光效果

图2 高清晰同轴光效果

2. 目标物：摄像头玻璃片。

检测目的：轮廓定位。

检测视野：2.30mm*1.44mm。

图3普通同轴光效果图

图4高清晰同轴光效果图

3.目标物：FPC软膜。

检测目的：Mark定位。

检测视野：2.30mm*1.44mm。

图5普通同轴光效果图

图6高清晰同轴光效果图

    后记：此同轴光主要应用于小视野情况下的成像。随着机器视觉的发展，技术的应用越来越成熟，对光源的了解也越来越深入。CST作为一家有着十多年的视觉经验的光源企业，在光源这一块始终走在行业的前列，对业内一些难题也有自己独特的见解。