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(CMVU)
慕藤光线扫检测方案,低畸变与高精确度的结合
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2022-04-08 11:44:49来源: 中国机器视觉网
线扫检测应用领域广泛,但是在应用中总是面临着光学畸变大,线扫长度不够,精准性不足等问题。慕藤光在实践中根据客户需求,提供了一套让人满意的解决方案。
检测要求
1.MARK点定位
2.景深:100*300mm
图中红线框处为部分MARK定位点,实际检测要求的精度在2-3个像素点。
方案图解
核心产品
1.远心镜头
在该方案中使用了慕藤光远心镜头系列,方案中实现0.78X的放大倍率,工作距离为250mm。慕藤光远心镜头的特点是超低畸变与超高分辨率,同时拥有超大景深,可以避免产品波动所引起的视觉误差。该产品系列有多种倍率可选,标准C接口,与1″及1″以下成像靶面工业相机完美搭配。如有特殊需求,可以根据客户的参数进行定制选配。
2.光源
ML-CLS225-W,慕藤光白色线扫同轴光源。该光源有独特散热结构和良好的均匀性,能够保证使用的稳定性和持续性。发光长度和颜色都可以定制,光源尺寸定制以75为递增单位,同时可以根据需要选配偏光板、漫射板、延长线等。
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