追求“易用性”，使导入变得更为简单。融合 KEYENCE的激光位移计和分光干涉计，改变了当今膜厚测量仪的传统概念。

在薄膜行业的厚度测定中，有很多客户使用X射线、B射线、红外线等测量装置。在这样的薄膜行业中，三角反射系列的讨论案件正在增加，调查了这个内容的结果，被要求在基材上的粘材层和共挤压成形的各层等功能性薄膜中测量“多层膜”的厚度。所谓功能性薄膜，是对作为基材的薄膜，涂上不同的材料、叠层、蒸镀等薄膜。这是一种具有粘性、防止反射等光学特性、防潮性等各种功能的薄膜，从食品包装到数码家电都有各种用途。为了实现粘接力的稳定性、均匀性，需要高厚度精度。“多层膜”的厚度在以往的X射线等装置中非常难测量，是根据接触和重量换算而实施的。但是，除了工作工时和测定精度有问题外，目前还不能满足在内部进行全数测定的要求。SI-T系列是作为响应这些功能性薄膜制造客户的要求，实现以粘接层为代表的“多层厚度的内部测量”的商品而开发的。从单层到多层也可以实现稳定测量，方便用户简便测量，每层折射率大于0.04即可识别并测量，黏附层也可做到稳定测量，借助光亮累计的功能。大范围测量，在折射率为1.5时，可以实现5-670μm的测量。

SI-T系列的四大优点

1.没有电磁噪声，不发热。传感头内部没有电子元件，没有电路，在纳米高精度测量中，发热是发生误差的原因，通过采用光纤传感头结构，实现不发热的原因。

2.SLD。SIT采用的是SLD光源，是近红外光，不可见光，测量效果和精度更好。

3.重量轻。安装距离大大减小，只要满足垂直工装，即产品到感探头到产品的为垂直状态，感探头直径为8mm，重量为70g。

4.耐移动。SIT系列的光纤为保偏光纤，光纤活动也不会影响测量值，保证其精度。