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04/16
2020
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阿丘科技AIDI 2.0 全新亮相
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2020-04-16 10:38:30来源: 中国视觉网

   历经三年实践更迭,AIDI 2.0于4月15日正式发布。

   AIDI(Artificial Intelligent Defect Inspection)是一款基于深度学习的智能工业视觉平台软件,集标注、训练、模型调优为一体,用于解决复杂缺陷检测、分类等问题,目前已经在3C、汽车、新能源等领域实现批量落地,上线多家工业头部客户。

   此次发布的AIDI 2.0,模块和功能都极大丰富。新模块!新功能!新速度!快来尝鲜吧~

功能模块更多选择,适用多领域多场景

四大主要功能模块



   Location 定位:缺陷定位功能,确定缺陷位置区域;

   Segmentation 分割:像素级缺陷分析技术,尤其是精细程度比较高的、不规则的、小目标的缺陷;

   Classification 分类:缺陷分类以及目标分类功能;

   Detection 检测:同时实现缺陷的定位和精准检测功能;


 新增  


   三大全新模块,并重新定义【定位】模块



   非监督模块:只需训练OK样本,即可分割NG区域,无需手动标注,适用于NG样本不易收集的宏观缺陷检测场景。

   快速检测模块:快速定位目标,适用于目标粗定位场景。

   回归分类模块:可根据程度对目标进行分类和打分,根据分数高低判定缺陷严重程度/产品等级高低,同时可以自由调整NG/OK的判定标准,适用于缺陷严重程度分类、产品精细定级等场景。

   Location 定位:适合任意形状目标高精度定位,适用于高精度目标定位、工件计数、目标二维姿态估计等场景。

操作功能全新写入,玩转AI平台软件

【ROI设定功能】

   针对目标在视野范围中位置固定场景,可以直接圈定ROI以提升检测速度和检测效果;

【单图掩膜功能】

   针对图像中的干扰物,可以通过单图掩膜功能抹除干扰物,以减少干扰物对模型的影响;

【多图训练方式】

   针对多角度打光形成的多张图像进行统一处理,通过不同图像不同角度下的呈现方式获取更多信息,并将所有信息进行融合后提升各模块检测效果;

【分类模块】支持分类结果可视化分析

   分类模块针对全图进行分类,可能根据图中任意位置特定进行判定,加入可视化分析后,若发现模型并不是根据目标区域特性进行判定,则说明模型不健康,可以结合ROI和单图掩膜功能进行模型修正;

【分割模块】新增重点区域学习功能

   针对部分图像区域漏检或过检,可以标记该区域为重点学习区域以有效提升该区域检测效果;

速度全新升级,效率up! up! up!


   接口更开放灵活,赋能你的视觉集成

   除支持C++/C#/Java/Python的推理接口外,还新增:

   ▶同时开放训练/推理接口,更灵活地嵌入设备软件;

   ▶支持C语言接口,兼容更多开发语言及环境(如Labview);

   ▶AIDI Client测试接口支持ID索引,以实现同任务模型复用;

   ▶二次接口支持单独模块预处理及后处理,实现自由度更大的传统处理功能;