近日，普雷茨特光学推出新品CHRocodile CLS 2.0 线传感器系列。光谱共焦线传感器 CHRocodile CLS 2.0 是在严酷的工业环境中进行精确 3D 在线质量控制的理想工具。通过高达 36,000 条轮廓/秒的快速线扫，可以在很短的时间内确定样品的三维结构 - 非常适合工作周期时间很关键的在线应用。光谱共焦测量技术提供的数据具有极高的横向和轴向分辨率，能够确保对任何类型的材料进行测量，并且没有阴影效应 - 即使是复杂的几何形状。

此外，易于更换的光学探头提供了高度的灵活性，使传感器的规格符合用户的要求。用户可以选择 12mm 的线宽，用于快速检测大型部件，或者选择具备优异数值孔径的短线，用于测量带有大角度倾斜的表面，例如智能手机或手表显示屏的倒角等。

CLS 2.0 应用

线传感器 CLS 2.0 系列非常适合如下应用：

在半导体行业的应用：引线键合检测、凸点测量、包装晶圆边缘检查、切割槽检查、缺陷、裸片裂缝、光掩膜光刻；

在消费电子领域的应用：外壳形貌检查，轻微、中等和高度弯曲表面的检查、倒角和转角检查、直径/孔/梯形表面检查、特殊高度物体的外观检查。

此外，线传感器 CLS 2.0 系列在亚微米范围内具有高精度，在医学行业的冠状动脉支架检测方面也独具优势。

通过将支架放在旋转支架上，可以方便快捷地检查整个支架的正确曲率、直径、变形、表面缺陷和其他不规则情况。由于配套探头的数值孔径很大，可以实现在没有阴影影响的情况下分析支架的内部。 

CLS 2.0 测量原理

CLS 2.0 通过光谱共焦原理建立距离与波长间的对应关系，利用光谱仪解码光谱信息，从而获得位置信息的装置。其提供的数据具有极高的横向和轴向分辨率，能够确保对任何类型的材料进行测量，并且没有死角，因此即使是复杂的几何形状也可快速测量。