COOLENS新一代μm级高精度AOI Lens，业内NA值最高的全画幅高倍系列。AOI 是高精度加工制造制程中必不可少的工艺环节，以至于每一道制程后都需要AOI，越是精密精细复杂，AOI越是必须，刚需。半导体，FPD， 微纳加工，PCB，SMT等等是典型的应用领域。

AOI从1000μm量级，100μm量级，目前已经进入到1-10μm量级精度的提高，对成像镜头的挑战也更加艰巨。COOLENS认为：进入20μm，就应该弃用定焦可调，可用于不同物距和倍率的普适型照相类镜头，转为特定场景设计的Macro或Telecentric镜头，只有one by one 的设计才能满足< 20μm AOI。

高精度AOI Lens的高指标

· 大的成像靶面：From 4/3”（22mm） to  5.5”（88mm），更高的一次像素采集量，势在必须；突破C-Mount限制，采用类似线扫接口。

· 高成像分辨率：新一代传感器要求160线对甚至250线对支持，相对与施耐德线扫镜头70相对，顶级照相镜头的100线对。

· 低成像畸变率：面对像素级拼接场景需求，传统的以%来描述已经不适用。

· 苛刻的RGB色差矫正：随着RGB彩色及多光谱、高光谱AOI的发展，对光谱色差矫正更加苛刻。

· 高可靠：更高的一致性、可靠性要求。

新一代μm级高精度AOI Lens

· 高倍率大靶面远心：针对半导体检测及高精度测量设计。并支持可变光阑。

· 支持主流相机：可完美支持6500万 、7100万、 8K 5μm 和Φ44像面全画幅相机。

· NA值高达0.2：能达到更高的光通量，更高的极限分辨率。

· 高均匀性：同轴照明系统。可定制点光源尺寸

· 严格校正色差：460-650nm焦移量<0.043mm 。

 · O/I尺寸短：节省安装空间。

典型应用场景

· 晶圆检测

参考配置：相机：2900万 5.5um；镜头：DTCA35F-  11C-  G-M58-ALV3。

薄膜电路表面瑕疵检测

参考配置：相机：8K 5um；镜头：DTCA35F-11C-G-M58-ALV3。