机器视觉系统开发设计中，如何采集到特征清晰、全面、对比鲜明的图像，是整个视觉检测最为重要的一步。在外观缺陷检测项目中，最富有挑战性的检测需求往往是表面脏污、细微的压痕、不规则的划伤、凹坑、凸点、裂纹等。特别是当被检测的工件为光滑、不平整表面，或该工件为透明材质（如玻璃）时，常规的照明方式根本无法满足要求。任何单一或固定的照明方式，都无法充分地呈现上述多种缺陷。这时，往往需要多种打光方式结合到一起才能有效解决问题。针对缺陷类型多样化、多角度打光等需求，传统方案是多工位多相机拍摄，架设复杂度高、成本较高。

多种打光方式示意图

相机分时多场成像可以利用相机分时控制技术，实现单次扫描获取多个光场图像信息的功能。该方案目前广泛用于FPD、PCB、锂电、印刷、薄膜等行业缺陷检测中。 

CL-L8KM-R1-100KT是和谦近期推出的集成了分时频闪功能的黑白线阵相机。该相机采用了高灵敏度8K分辨率芯片，像元尺寸为7μm×7μm，最大行频可达到100KHz。

通常相机分时多场成像方案是多光源由一只光源同步控制器控制，而和谦这款分时频闪控制相机可以直接控制多光源曝光，并同时搭配使用多个不同角度的光源。该技术具有节约硬件成本、减小多工位布局空间、增加成像效率、降低图像处理难度等优势。

传统模式需要时序控制器，价格贵、体积大；L8KM控制简单，节省安装空间和成本。传统模式出现丢行时，图像会紊乱，无法正确分出明场、暗场的图；L8KM控制即使有丢行，也不会影响图像成像，无论是丢掉了行触发还是丢失了一行图像，都不会影响到图像的分图。传统模式每一帧图像第一行是明场还是暗场需要软件识别；L8KM控制已经在相机内做了图像的拼接，所以不会出现明暗场需要判断的情况。传统模式曝光和增益只能调一个固定的值，无法满足明场和暗场各自的需求，只能单纯的靠外部的光源的亮度来实现；L8KM控制每行的曝光和增益都独立可调，对光源的依赖性没有那么强。L8KM控制在调试阶段更有优势，出图时已经分配完成，便于安装调试人员观测图像。

现场展示

L8KM提供8路光源控制信号，相机曝光和光源控制信号同步延迟可调，支持内部多行不同曝光时间，不同增益可调。内部还集成了不同曝光不同光源图像拼接合成功能，这样省去上位机软件拼接工作，同时保证图像的同步性能，减轻了软件的负荷，提高整体运算效率。

检测缺陷应用案例

电机滑台示意图