InGaAs camera C16741-40U

硅片是制作晶体管和集成电路的原料。通过对硅片进行光刻、离子注入等手段，可以制成各种半导体器件。随着大规模集成电路设计的发展，半导体行业对硅片及其它硅基材料的质量要求越来越高，控制缺陷类型及数量，提高晶体完整性，显得尤为重要。

在硅片生产过程中，由于一些机械应力、热应力及人为等不稳定因素的存在，会不可避免的造成硅片的一些隐性缺陷，如污染、裂纹、扩散不均匀等。为了解决上述情况，拥有领先的尖端光子技术和产品的供应商Hamamatsu Photonics推出了一款新型InGaAs相机C16741-40U。

C16741-40U检测硅片内部缺陷实例 

InGaAs相机C16741-40U与其他类型工业相机成像优势对比：通过下图，我们可以看出InGaAs相机C16741-40U成像更清晰。

C16741-40U的优势在哪？

通过上述帧率、分辨率以及灵敏度对比，InGaAs-C16741-40U相机拥有1280×1024的高质量像素，提供高速USB 3.1 Gen 1接口，71.53帧每秒的测量速度，InGaAs-C16741-40U因此具有明显优势，大大提高了测量精度以及系统的吞吐量。

相机的灵敏度：在可见光到近红外区域从400 nm到1700 nm，远远超过同类型相机。

C16741-40U相机凭借其良好的散热效果和图像质量、高灵敏度和低噪音，以及不同于普通工业相机的检测方法，成为图像拍摄领域的佼佼者。无论是对于硅片和器件的内部检查，还是激光束对准和太阳能电池的评估等，该相机都能为用户提供高效、准确的数据。

（本产品由上海和谦图像技术有限公司代理）