- 10/28
- 2024
-
QQ扫一扫
-
Vision小助手
(CMVU)
前言
传统的2D视觉系统往往难以识别物体表面的细微缺陷,如微小的划痕、凸起或凹陷。然而,2.5D视觉技术却能够有效消除背景噪声的干扰,探测到物体表面高度的微妙变化,输出高质量多维度图像。
针对这类细微缺陷的特殊检测需求,埃科结合自研的2.5D光度立体算法和相机硬件,推出光度立体成像系统,极大地提高产品质量检测的精确性。
产品介绍
埃科光度立体成像系统根据不同检测速度、精度及视野要求可以选配相匹配的镜头与光源,确保在复杂的检测场景中获得更准确的结果。
目前共有三种类型的系统,线扫光度立体成像系统支持搭配穹顶多分区光源或4分区线光源;面阵光度立体成像系统搭载8分区环形光源。
产品优势
成像算法强大,揭示清晰细节
系统预设十余种不同的算法结果图,每一种都专为捕捉特定的图像特征而设计,从各个角度精准呈现出物体表面的微小瑕疵;还支持用户根据具体的检测需求调整算法,从而输出定制化的图像,拓宽在不同应用场景中的适用性。
图像处理高效,延迟低至μs级
相机内部集成埃科自研光度立体算法,对图像数据进行实时计算和分析,大幅减轻上位机的计算负担,保障了图像处理的速度和准确性,延迟低至微秒级,满足生产线上高速、连续的检测要求。
硬件性能卓越,高速检测无忧
系统可搭配埃科自研的4K/8K线阵相机及900万像素面阵相机,线阵相机最高行频150kHz,面阵相机光度立体模式下最高帧率11.68fps,均采用万兆网接口输出数据,轻松应对在线高速检测。
光路设计丰富,瑕疵一网打尽
针对不同检测项目,埃科光度立体成像系统支持配置不同的光源方案,确保全方位呈现瑕疵形态。
系统配置灵活,快速高效部署
埃科光度立体成像系统集相机、光源、控制器于一体,支持镜头选配,避免了传统视觉检测系统繁杂的组件搭配。
应用场景
埃科光度立体成像系统专为检测漫反射物体表面的细微缺陷和凹凸变化而设计,是锂电池缺陷检测、金属表面瑕疵识别以及其他非镜面物体检测的理想选择。
电芯外观检测
检测难点:缺陷特征小,瑕疵判定标准难以界定,容易过杀、漏杀;
解决方案:埃科面阵光度立体成像系统;
检测效果:获取被检测物表面形貌信息,准确判断瑕疵存在状态,近似达到3D检测效果。
蓝膜下异物检测
检测难点:人眼和普通可见光成像难以分辨膜下异物;
解决方案:埃科近红外线扫光度立体成像系统;
检测效果:埃科光度立体成像系统不仅能够检测表面平整性,搭配红外分区光源时,能够穿透电池蓝膜,准确识别出膜下异物。
金属粉末检测
检测难点:2D成像下,金属粉末与石墨粉末从外观上难以区分;
解决方案:埃科线扫光度立体成像系统;
检测效果:埃科光度立体成像系统能够敏锐捕捉检测对象的细微高度变化,依据高度信息,即便是颜色一致的颗粒,光度立体积分图和融合图也能够有效区分它们。