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05/23
2006
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深紫外和红外圆片检测系统发布
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2006-05-23 13:59:00来源: 中国视觉网

    据Semiconductor Reporter网站报道,Olympus Micro-Imaging近期宣布将于今年7月的Semicon West展会上发布一款新型深紫外和红外圆片检测系统;以解决现行工艺中多于7层金属时,内表面检查和测量困难的问题。

    新型的红外探测技术基于1200nm波长,可以对硅、砷化镓和部分其他材料进行高分辨率的成像。新型的深紫外探测基于300nm-80nm波长,此项模块可以在现有Olympus显微镜系统中直接更新使用。

    深紫外/红外圆片探测系统可以在不损坏圆片的前提下,实现高分辨率的内层表面的检查与测量。此项检测系统中同时包含有Olympus高端LEXT激光共焦扫描显微镜系统。

(中国图像网报道)

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