2006年12月7－8日，由日本精密工学会图像应用技术专业委员会组织的2006年缺陷检查算法竞赛结果正式对外公布，法视特（上海）图像科技有限公司作为参赛单位之一获得第三名的好成绩。

    为了促进基于图像的外观检查技术的发展，日本精密工学会图像应用技术专业委员会与研究人员和技术人员一起，推进着通用外观检查图像数据库的建设。作为重要部分，图像应用技术专业委员会从2001年起组织外观检验算法竞赛。竞赛以实际应用为背景，使用实际制造现场产生的图像作为比赛的对象，逐渐广为人知。

    2006年，第6届外观检查算法竞赛的题目是“随机模式图像上显著缺陷的检查”，需要快速检查出不同类型的图像上比较显著的外观缺陷，如图1所示。

    比赛规则是：预先给定有代表性的50幅图像（其中，20幅有缺陷并给定缺陷区域，30幅无缺陷）作为算法开发和测试的标准，供参赛各队设计算法和调整参数。比赛时，另外给200幅图像(其中包括没有缺陷的图像,有缺陷的各个图像都在事前指定了正确的缺陷区域)作为评价标准。参赛的程序需要连续读入这些图像，将检出结果（是否有缺陷，缺陷区域中心坐标）保存到指定的文件。根据正确率和处理时间进行评价:100分为满分, 缺陷只要在这个预先设定区域的外接矩形内就算正确。标准评价环境为CPU:Cereron2.4Ghz,内存512MB，操作系统为 Windows XP。平均一个图像处理时间少于50ms时，加5分，多于500ms时减5分。

    法视特（上海）图像科技有限公司员工王郑耀、施俊和宁兆斌，代表法视特（上海）图像科技有限公司在日本法视特公司的协助下利用业余时间参加了这次比赛。在法视特公司长期从事机器视觉和外观缺陷检查经验的基础上，通过近两个月的努力，三名员工开发出了缺陷检查算法和参赛程序。平均处理时间每幅图像为70毫秒（在标准评价环境下）；对50幅预先给定图像的正确率为96％。最终，法视特（上海）图像科技有限公司的参赛作品获得了第三名的好成绩。

    王郑耀代表参赛人员参加了2006年12月7日在日本横滨举行的颁奖大会并与其它获奖代表进行技术交流。

王郑耀代表参赛人员领奖

与同业者面对面的交流

    据了解，本次缺陷检查竞赛的主题－“随机模式图像上显著缺陷的检查”－是极具代表性的并具有相当难度的课题，评价图像中的外观缺陷类型也具有广泛的代表性。相当多的产品生产过程中都可能有类似的外观缺陷。因此，相关课题在工业生产的质量控制中将具有非常广泛的应用。FAST公司具有长期从事缺陷检查的经验，尤其是在平面显示器检测方面。FV-Pixellence适合于以LCD为代表的平面面板的点灯检测，玻璃、胶片、金属等平面的瑕疵、污垢检测等，是平面对象物体表面检测最适合的图像处理系统。利用FAST独特的图像处理技术，可检出低对比度的缺陷及Shimi、Mura缺陷。法视特公司将继续开发快速、稳定、通用的机器视觉产品，为广大用户服务！

（中国图像网报道）