法视特（上海）图像科技有限公司参加日本精密工学会图像应用技术专门委员会组织的2008缺陷检查算法竞赛，获得第一名的好成绩。自2006年来，该公司三次参加缺陷检查竞赛，三次均获奖。其中，2006年比赛题目为“随机模式图像上显著缺陷的检查”，法视特初次参赛，获得第三名；2007年，比赛题目为“半导体模式上大缺陷的检测”，法视特获得第一名。

    2008年，第8届外观检查算法竞赛的题目是“半导体模式上的缺陷分类”，需要对半导体图像上出现的缺陷进行快速分类。如图1所示，缺陷类别包括异物、点状缺陷、伤和Mura四类。具体信息参见比赛主页：http://www.tc-iaip.org/alcon/。

     Alcon2006、Alcon2007和Alcon2008的主题是半导体随机模式上缺陷的检测与分类，这是极具代表性的并具有相当难度的课题，竞赛使用图像中的外观缺陷类型也具有广泛的代表性。相当多的产品生产过程中都可能有类似的外观缺陷。因此，相关课题在工业生产的质量控制中将具有非常广泛的应用。

    日本精密工学会图像应用技术专门委员会，为了促进基于图像的外观检查技术的发展，与研究人员和技术人员一起，一边推进通用外观检查图像数据库的建设,一边从2001年起组织实施作为重要部分的外观检验算法竞赛。竞赛以实际应用为背景，使用实际制造现场产生的图像作为比赛的对象，逐渐广为人知。
 
    法视特公司成立26年来，在缺陷检查、自动定位和图像测量等方面积累了大量经验。FV-Pixellence适合于以LCD为代表的平面面板的点灯检测，玻璃、胶片、金属等平面的瑕疵、污垢检测等，是平面对象物体表面检测最适合的图像处理系统。FV-aligner系列是一款多功能，高精度的定位型图像处理装置。进行自动定位时，将工件放置在一个参考平面，通过摄像头获得图像信息，图像处理系统自动的对相机角度、位置或者操纵台的调整以进行校正，并自动计算出工作物到对位的目标位置所需要的XYθ移动量，然后通过控制三轴、四轴平台的移动，对工件进行XYθ校正，从而达到精确对位的目的。FV-Aligner系统在执行操作中大大缩短了生产时间，而且对应各种工件规格、相机位置、平台轴构成，所以大幅降低了成本。基于这些经验和技术，上海法视特将开发更适合中国市场需求的缺陷检查、自动定位和图像测量系统，更好的为中国客户服务。

（中国图像网报道）