同轴光源采用分光镜设计，LED的光线通过半透镜面后成为与镜头同轴的光线，采用特殊材料抑制反光的半透镜面来消除图像中的重影，提高成像清晰度。适用于反射率高的被测物的划痕、印字等的检测.
应用领域：
适用于反射度极高的物体，如金属，玻璃，胶片，晶片等表面的划伤检测。
芯片和硅晶片的破损检测
Mark点定位
包装条码识别
