晶硅电池隐裂检测模块（LEAP^solar-SC100）

主要用于硅片来料隐性裂纹等缺陷的检测

参数性能

产能：≥4500片/小时

最高检测精度：200μm

设备有效时间：99%

破片率：<0.05%（传输剔除）

重复性：99.85%

电压：220V AV

功率：≤1000W

晶硅电池缺陷检测仪（LEAP^solar-SP100）

主要用于检测晶硅电池片镀膜工艺后的色差和表面缺陷

参数性能

产能：≥4500片/小时

最高检测精度：90μm

设备有效时间：≥99%

破片率：<0.05%（机械臂吸片）

外形尺寸：单检测工位：430mm*350mm*600mm

重量：单检测工位≤20KG

电压：220V AV

功率：≤1000W

晶硅电池丝网印刷检测仪（LEAP^solar-SS100）

主要用于检测晶硅电池片印刷工艺后的断栅、印偏、线粗、背电场脱落、背电极印偏、漏浆等问题

参数性能

产能：≥3600片/小时

最高检测精度：60μm

设备有效时间：≥99%

重复性：99.85%

外形尺寸：单检测工位：220mm*280mm*400mm

重量：单检测工位≤15KG

电压：220V AV

功率：≤1000W

晶硅电池终品分选模块（LEAP^solar-SF100）

对晶硅电池的颜色深浅及分布进行判断，根据不同厂家需求分到8~24个集中片槽

参数性能

产能：≥3000片/小时

最高检测精度：30μm

设备有效时间：99%

重复性：99.85%

分档：定制化

电压：220V AV

功率：≤1000W

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