首页>产品>正文
白光扫描干涉光学系统
收藏
品牌:
型号:
应用领域:
类别:镜头
产品详情

简介

W.S.I是一种高分辨率的非接触式3D测量工具,它使用短相干的白光(多波长)。

· 用3D的方法测量精细表面上的形状和厚度
· 使用白色射线可以精确测量高度,因为干涉图案的截面相对较短
· 您可能需要各种2D和3D图像来获取各种类型的数据。 菲涅尔光电基于多年积累的专业知识,为2D和
3D提供按需光学模块。 请与Fresnel联系以获取有关光模块的更多信息。