白光干涉仪，膜厚测量仪
收藏
公司名称：深圳立仪科技有限公司
发布时间：2024-08-20
有效日期：2025-08-20
应用领域：精工和光学
关键词：相机、光源、视觉系统、镜头
发布时间：2024-08-20
有效日期：2025-08-20
应用领域：精工和光学
关键词：相机、光源、视觉系统、镜头
产品详情
OCD 自主知识产权的算法进行反 演计算，可获得每一层薄膜材料的 光学参数（厚度、折射率、消光系 数）。
METAFILN-W系列是专门用于测 量光刻胶涂层厚度的型号。
以白光干涉技术为原理，光 源发射的光经过扩束准直后 经分光棱镜分成两束，一束 经被测表面反射，一束经参 考镜反射，两束反射光最终 汇聚并发生干涉，经处理器 转化为干涉条纹信号
更多供求
- 上一条：光谱共焦位移传感器系列 D65A52
- 下一条：点激光位移传感器