随着键盘数量增多和印刷的多样化，传统的人工检测键盘存在检出率低且效率不高的问题，且增加了劳动强度和生产成本。为此沃德普推出自动化键盘外观缺陷全面检测方案，有效提高生产效率和产品质量。

以台式键盘为例，需要同时检测有六个面：键帽正面、键帽侧壁、键盘正面，键盘侧面、键盘底面、底部凸台。

在设计方案的过程中，仅靠一个光源辅助成像是不足以完成检测以上全部缺陷，然而用多组相机/光源进行检测，那么设备会非常庞大，工位繁多，影响整体检测CT等问题，适时沃德普推出“盘古分时成像方案”，有效解决这一痛点。“盘古分时成像方案”可以进行多工位合并，且成像速度为300mm/s，保证检测效率，稳定输出不同工位对应光源成像：明场、暗场、明暗场图像。

盘古分时成像方案

明场图片

暗场图片

键盘侧边

从算法的角度来说，我们提供的图像信息越多，对检出率是有极大帮助的，利用“盘古成像方案”，提供多幅不同光源成像出来的图片，可以有效减轻算法压力，提高检出率，减少漏失次数，提高效率！

“盘古成像方案”能稳定高效地检测缺陷

基于键盘外观全面检测方案可用于各种键盘工件的高精度缺陷检测，比如键帽的凸点、划伤、以及暗色划伤等。有效提高生产效率和产品质量，减少人工检测的漏检、误检次数！

键帽：凸点、划伤、暗色划伤

自动化机器检测方式优化了传统人工检测的缺点，而“盘古成像方案”具有多工位合并、成像效率高，同时输出不同工位成像的优点，且缩短设备尺寸，减少运控步骤，有效提高检测CT。从算法的角度来说，提供的图像信息越多，能有效减轻算法压力，提高检出率！