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Vision小助手
(CMVU)
4月9日,美国正式对中国商品加征104%的关税,随后又提高至125%。4月12日,中国同步调整对美进口商品加征关税税率至125%,并表示之后不予理会美方继续加征关税的无意义行为。4月13日,美国宣布对原产于中国的约20项商品豁免125%的“对等关税”,涵盖半导体制造设备、集成电路等电子产品。然而,这一豁免政策并未改变美国对中国高科技产业的遏制战略,未来双方在技术标准、市场准入上的博弈将持续。
中美脱钩、逆全球化趋势下,挑战与机遇并存:新材料行业国产替代+自主可控重要性凸显;倒逼通信&电子行业AI芯片国产化提速,光学产业链完善、先进封装有望迎来加速发展——国产自研解决“卡脖子”困难势在必行、刻不容缓。
行业痛点
集成电路、新能源、电子制造、面板显示、微机电系统等高端精密产品检测,极度依赖进口设备,比如Zygo、ZETA、Cyber optics、Bruker等,存在成本高、效率低、适用性差、不开放等问题,严重制约国内高端制造产业发展。为解决新材料、新工艺领域的微纳米表征观察分析及非接触式粗糙度分析难题,楚光三维研制出了新一代全自主革命性3D显微成像产品——面共焦3D显微传感器、面共焦3D显微镜/轮廓仪、线光谱共焦3D传感器。
国产自研的必要性和优越性
行业微观来看,楚光三维国产自研替代方案具备优越性:面共焦3D显微系列产品,可量检测特征复杂表面(如散射表面)和光滑表面,也可根据应用场景,灵活调整Z轴精度于1nm至1μm之间,单视野扫描成像低至3S。系全球首款“面阵光+共焦成像”技术商业化产品,功性能比肩行业头部的同时,国产自研属性可灵活定制解决方案,更高效、可靠、开放、友好,有效助力终端客户精准降本提质增效。线光谱共焦3D传感器,高精度双轴光路设计、并行计算、高速扫描,带来更高效率,更广泛的适用性,更高成像精度和更低的维护成本。宏观来看,国产自研替代方案已成必然,其可降低关税成本,提升产品市场竞争力;保障供应链稳定自主可控;解除可能的技术封锁风险。
国产自研技术&产品
01面共焦系列:面共焦3D显微镜&面共焦3D显微传感器
根据宽场显微成像原理,利用结构光照明调制被测物体的表面信息,除去离焦信号干扰,通过垂直轴向扫描得到微观表面3D形貌。
该技术突破了激光共聚焦、超景深、白光干涉等传统技术及核心零部件壁垒,采用独特面阵光扫描共聚焦技术,带来更高效率、更强大成像能力:
跨尺度:可同时兼容微米至纳米级精度;跨材质:可兼容金属/非金属异质表面、透明半透明材质、高反光材质;跨结构:可兼容光滑表面、粗糙表面、缓变曲面、台阶面以及深孔、沟槽、倒金字塔等复杂结构。
02线共焦系列:全自主线光谱共焦3D传感器
高效率:自研感、算一体并行计算架构SOC,所见即所得,支持超高速扫描;广泛适用:适用于光滑表面、复杂表面、高反光材质、透明材质;高精度:自研高精度双轴光路设计、采用1200万像素CMOS芯片、获取更高成像精度;低成本维护:可远程调参,可远程更新SDK;跨平台适用:台式3D轮廓仪、自动化3D量检测设备,3D AOI。
楚光三维行业应用案例
公司产品应用行业涵盖但不局限于半导体晶圆、集成电路、高端PCB、精密3C、新能源、科学研究,精密量测技术助力高端制造产业高效升级。
半导体:包括但不局限于:晶圆前道/后道;芯片封测中、后道检测量测。
案例1:Si、SiC、玻璃晶圆粗糙度测量
案例2:SiC晶圆电学测试后探针针痕分析及测量
高端PCB:包括但不局限于IC载板镭射孔、背钻孔孔深孔径量测。
案例3:背钻孔孔径孔深测量,达8mm深孔
新能源:包括但不局限于光伏太能能电池硅片;锂电池封装。
案例4:太阳能电池硅片绒面金字塔、栅线测量
3C消费电子:包括但不局限于3C柔性显示屏模组/摄像头模组/精密结构件。
案例5:①摄像头盲孔测量;②bonding 区胶高测量;③屏幕崩边、崩角检测;④曲面屏边缘成像;⑤内屏缺陷检测
案例6:3C电子产品微加工金属膜材、透明聚合物膜材表面形貌分析
更多应用(欢迎共同探索):包括但不局限于微加工器件(光芯片、微透镜阵列、MEMS);微加工金属膜材、聚合物膜材。
案例7:某透明材质上倒金字塔结构尺寸测量
总结
在当下各国互加关税壁垒逐渐森严的背景下,国产自研替代方案不仅是历史的必然,更是迈向未来的关键一步。楚光三维凭借自主研发的核心技术,为客户提供高性价比、自主可控的解决方案,助力企业在复杂多变的市场环境中保持竞争力。