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(CMVU)
精密测量领域再添利器
深视智能重磅发布光谱共焦位移传感器SCI系列全新型号 SCI04020,这是高要求及严苛环境下精密测量的突破性升级,在影像仪检测等需要大工作距离的场景中表现突出,切实解决碰撞风险痛点。
一、核心参数,精准可靠
突破性40mm工作距离
在明星型号SCI04025的基础上,SCI04020点光谱共焦位移传感器将工作距离大幅提升至40mm,让传感器探头与被测物体保持安全距离,在影像仪等设备快速移动或进行复杂姿态测量时,可有力避免物理碰撞,为昂贵设备和精密工件提供可靠保护。
0.8μm超高线性精度
在40mm超长工作距离下,SCI04020点光谱共焦位移传感器仍保持0.8μm线性精度,性能优于行业同类产品,确保测量结果的精准性。
3路差分编码器同步输入
集成3路差分编码器输入,凭借强大的多轴运动同步能力,可与运动平台无缝对接,实现高精度位置同步触发测量,为复杂轨迹扫描、多维度测量提供坚实支撑。
大小光斑自由切换
16μm/32μm双光斑智能适配,复杂材质测量不再受限制。大光斑可增强粗糙表面或透明材料的信号稳定性,小光斑则精准适配精密零件边缘检测,轻松应对高反光、低光泽等复杂材质。
二、典型应用场景:影像仪设备检测
影像仪在扫描深孔、复杂曲面时,传统传感器常因工作距离不足,导致探头容易与工件棱角、治具发生碰撞,轻则划伤探头,重则损毁精密工件,停机检修还可能延误生产周期,这是行业普遍存在的痛点。
SCI04020给出完美解决方案
高效扫描:33kHz高速采样与多轴编码器协同工作,实现复杂轨迹的快速测量。
安全检测:40mm工作距离提供充足操作空间,有效避免碰撞风险。
材质兼容:双模式光斑搭配超强感光算法,能稳定检测高反光金属、透明玻璃等多种材质。
三、场景延伸:不止于影像仪设备
依托自研超强感光算法与定制超亮光源的深度协同,深视智能SCI04020点光谱共焦位移传感器能精准捕捉微小段差或薄膜厚度波动,满足半导体、3C电子、精密模具等领域的严苛检测标准。
半导体行业
适用于高反光、漫反射等复杂表面测量
高端制造
对工作距离和防碰撞有高要求的自动化在线检测场景
精密模具
精密零部件尺寸与形貌检测(如深孔/凹槽/阶梯面)
光学镜片
适用于透明/半透明材料厚度测量
在工业精密测量领域,工作距离与精度的平衡始终是技术难点。深视智能全新型号SCI04020光谱共焦位移传感器突破性实现40mm超长工作距离与0.8μm超高线性精度的结合,为大工件检测的安全与精准树立了新标杆。
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