美国Dataray Beam'Map2扫描狭缝光束质量分析仪

产品介绍：

美国DataRay的Beam'Map2扫描狭缝光束质量分析仪是在Beam'R2的升级款，相比于Beam'R2的两队狭缝，Beam'Map2在旋转圆盘上不同的Z轴位置安装4对狭缝，可以同时在四个不同的z位置观测四个光束轮廓，从而能进行实现实时、多平面测量能光束质量测量。

产品特点：

·190 ~ 1150nm，硅探测器

·650 ~ 1800 nm, InGaAs探测器

·1000 ~ 2300或2500 nm, InGaAs(扩展)探测器

·光束直径5µm至4mm，刀口模式2µm

·USB 2.0端口供电;柔性3米电缆;无外部电源

·0.1µm采样和分辨率

·实时X-Y-Z光束剖面分析，束腰位置测量

·实时多Z平面扫描狭缝系统

·实时M2，发散角 ，激光准直度测量

光束轮廓分析仪Beam'map2系列应用：

·小尺寸连续激光束轮廓分析

·光学组件和仪器对准

·OEM集成

·镜头焦距测试

·实时诊断聚焦和对准误差

型号参数：