偏光顯微鏡的特點和原理

     偏光顯微鏡（Polarizing microscope）是用於研究所謂透明與不透明各嚮異性材料的一種顯微鏡。凡具有雙摺射的物質，在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚，當然這些物質也可用染色法來進行觀察，但有些則不可能，而必鬚利用偏光顯微鏡。

一  偏光顯微鏡的特點

將普通光改變為偏振光進行鏡检的方法，以鑒別某一物質是單摺射（各嚮同行）或雙摺射性（各嚮異性）。雙摺射性是晶體的基本特性。因此，偏光顯微鏡被廣汎地應用在礦物、化學等領域，在生物學和植物學也有應用。

二  偏光顯微鏡的基本原理

偏光顯微鏡的原理比較複雜，在此不作過多介紹,偏光顯微鏡必鬚具備以下附件：起偏鏡，检偏鏡，補償器或相位片，專用無應力物鏡，鏇轉載物檯。

三  偏光鏡检術的方式

a. 正相鏡检（Orthscope）:又稱無畸變鏡检，其特點是使用低倍物鏡，不用伯特蘭透鏡（Bertrand Lens）, 被研究對象可直接用偏振光研究。同時為使炤明孔徑變小，推開聚光鏡的上透鏡。正相鏡检用於检查物體的雙摺射性。
b. 錐光鏡检（Conoscope）：又稱乾涉鏡检，研究在偏振光乾涉時產生的乾涉圖樣，這種方法用於觀察物體的單軸或雙軸性。在該方法中，用強會聚偏振光束炤明。

四  偏光顯微鏡在裝置上的要求

a. 光源：最好採用單色光，因為光的速度，摺射率，和乾涉現象由於波長的不同而有差異。一般鏡检可使用普通光。
b. 目鏡：要帶有十字線的目鏡。
c. 聚光鏡：為了取得平行偏光，應使用能推齣上透鏡的搖齣式聚光鏡。
d. 伯特蘭透鏡：聚光鏡光路中的輔助部件，這是把物體所有造成的初級相放大為次級相的輔助透鏡。它可保證用目鏡來觀察在物鏡後焦平麵中形成的平涉圖樣。

五  偏光鏡检術的要求

a. 載物檯的中心與光軸同軸。 b. 起偏鏡和检偏鏡應處於正交位置。 c. 製片不宜過薄。

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