手机制造产线中,外壳全检面临多重技术瓶颈:曲面玻璃与镀膜工艺的广泛应用,使微米级划痕(≤0.1mm)及表面污染物的可靠检测复杂度提升——弧面光学干扰增加特征提取难度,而高速产线对毫秒级检测节拍的硬性要求,更对多相机系统的协同稳定性形成持续压力。尤其在多型号切换场景下,传统视觉方案受限于均匀照明与软件级压缩传输,存在明确技术短板:弧面缺陷检出率波动(因固定光源难以适配多变曲率),压缩失真导致的误检风险(如JPEG算法丢失细微纹理),以及系统脆弱性(多相机并行时网络负载激增,导致图像丢包)直接影响良率与生产连续性。
检测精工和光学监控2025-09-18 | 中国机器视觉网 |
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