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上海嘉励推出二代线扫&高亮线扫光源,适合高速度线扫描检测
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2022-08-03 13:47:50来源: 中国机器视觉网
近日,上海嘉励推出二代线扫&高亮线扫光源,二代常规线扫光源亮度较一代提升10-30%,高亮线扫亮度较一代提升50%-200%,最高照度达270万lux。可应用于金属表面缺陷检测、基板封装零件检测、印刷品字符等检测、手机屏幕表面缺陷检测等领域。
二代线扫光源采用独特的柱面透镜,形成聚光结构,亮度高,光源的发散角度小,能适用不同工作距离,适合高速度线扫描检测;创新的散热设计,相比一代线扫的散热结构,相同功率时温度降低明显,可提高光源的使用寿命;特殊的电路设计,改进了光源进线端偏亮问题,光源均匀度高达95%。
照明对比图
照度随工作距离变化曲线
相对辐射亮度分布
成像案例一:金属外壳表面划伤检测 (相机曝光时间:18us)
JL-XS-200W JL-XS2-200W JL-GXS-200W
成像案例二:菲林片漏铜检测(相机曝光时间:20us)
JL-XS-200W JL-XS2-200W JL-GXS-200W
成像案例三:菲林片漏铜检测(相机曝光时间:20us)
JL-XS-200W JL-XS2-200W JL-GXS-200W